산업용 검사 현미경 NX2000 시리즈
마이크로 일렉트로닉스 및 반도체 검사용 현미경
사용자에 가까운 디자인
통합 컨트롤 패널
NX2000 현미경 제어 부품은 혁신적인 통합 설계를 채택했습니다. 최초의 전동식 조동/미동 조정 핸드 휠, 전동식 노즈 피스 스위치 버튼, 투과/반사 밝기 조정 노브 및 기타 제어 구성 요소가 통합되어 현미경 전면에 설치됩니다. 기존 현미경의 우수한 구조와 레이아웃을 계승하고 전자 제어의 편의성을 업그레 이드 하여 고유한 조작 편의성을 제공합니다.
산업 시료 관찰이 더 편리해졌습니다.
넓은 샘플 공간
LCD 패널 산업의 다양한 분야의 테스트 요구 사항을 충족하기 위해 NX2000은 200mm의 큰 Z축 이동 스트로크를 채택하고 다양한 크기에 완벽하게 적응할 수 있는 대형 14″x12 산업 플랫폼과 일치합니다. 테스트 샘플, 마이크로일렉트로닉스 및 반도체 샘플은 면적이 큰 경우가 많으며 일반 야금 현미경 플랫폼은 관찰 요구를 충족할 수 없습니다. NX2000은 큰 적재 플랫폼과 넓은 이동 범위를 가지고 있으며 이동이 편리하고 빠릅니다. 대면적 산업 샘플을 현미경으로 관찰하는 데에 이상적 도구입니다.
높은 이미지 축소
기울기 조정 가능한 삼안 관찰 헤드
기울기 각도를 조절할 수 있는 관찰 헤드를 보다 편안한 자세로 조작할 수 있습 니다. 장시간 작업으로 인한 근육 긴장과 불편함을 최소화합니다.
낮은 손 초점 및 재물대 미세 조정 메커니즘
초점 메커니즘과 플랫폼 미세 조정 메커니즘은 인체 공학적 디자인에 부합 하는 낮은 손 디자인을 채택하여 최고의 편안함을 제공합니다.
인체공학적 틸팅 뷰잉 헤드
인체공학적 틸팅 뷰잉 헤드는 장기간의 작업으로 인한 근육 긴장과 불편함을 최소화하여 미세 관측 작업을 보다 편안하게 만들 수 있습니다.
사용하기 편한 재물대의 낮은 미동 조절 손잡이와 스테이지의 포커싱 메커니즘
스테이지의 포커싱 메커니즘과 미동 조절 손잡이는 인체 공학적 설계로 낮게 위치해 손으로 조절하기 편안합니다.
NX2000 과학 등급 현미경은 명시야, 암시야, 위상차, 형광, 편광, DIC 등 모듈식 조합을 통해 다양한 관찰 방법을 실현할 수 있습니다.
다양한 테스트 요구 사항을 충족하는 다양한 관찰 방법
반사광명시야
NX2000은 우수한 NIS 무한대 광학 시스템을 채택했습니다. 시야는 균일하고 밝으며 색 재현율이 높습니다. 불투명한 반도체 샘플을 관찰하는 데에 적합합니다.
암시야
명시야 관찰을 실현할 수 있으며 고감도로 작은 스크래치 및 기타 결함을 감지할 수 있습니다. 수요가 많은 시료의 표면 검사에 적합합니다
투과광명시야
FPD, 광학 부품 등과 같은 투명한 샘플의 경우 투영 집광기를 통해
명시야 관찰이 가능합니다. 동시에 DIC 및 단순 편광과 같은 액세서리와 함께 사용할 수도 있습니다.
단순 편광
이 관찰 방법은 금속 조직 구조, 광물, LCD 및 반도체 재료와 같은
복굴절 특성을 가진 표본에 적합합니다.
반사광 DIC
정밀 금형의 작은 차이를 관찰하는 데 사용됩니다. 이 관찰 기술은 평범한 관찰에서는 볼 수 없는 미묘한 높이 차이를 부조와 입체 영상의 형태로 표현할 수 있습니다.
특징
